測量分辨率（電流/電壓）
10
A
滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條完全隔離的寬動態源和測量通道。每條 40 W 通道提供 6? 位**分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 簡化 FET 測試
特點
測試腳本處理器 (TSP®) 技術可在 SMU 儀器內嵌入和執行完整測試程序，提供業界*佳性能。
使用 2600B 系列進行二極管生產測試
TSP 鏈路® 技術可擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試，沒有主機。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。
使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設備的生產吞吐量
2635B 和 2636B SMU 在*低 100 pA 范圍內提供 0.1 fA、10-16 A 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產成功。
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粵公網安備 44030702000865號
